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		<title>Ein besonderer Blick auf Münchens Patentwelt</title>
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		<dc:creator><![CDATA[Florian Meier]]></dc:creator>
		<pubDate>Sun, 17 May 2026 06:13:20 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[Patent]]></category>
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					<description><![CDATA[<p>München ist eine der führenden Städte Europas für Innovation und gewerblichen Rechtsschutz. Diese besondere Stellung wird eindrucksvoll sichtbar vom Rathausturm: Von hier aus lassen sich das Deutsche Patent- und Markenamt (DPMA) und das Europäische Patentamt (EPA) nahezu nebeneinander erkennen. Die räumliche Nähe beider Institutionen steht sinnbildlich für die enge Verzahnung nationaler und europäischer Patentsysteme. Das &#8230; </p>
<p class="link-more"><a href="https://meier-ip.eu/de/patent/ein-besonderer-blick-auf-muenchens-patentwelt/" class="more-link"><span class="screen-reader-text">„Ein besonderer Blick auf Münchens Patentwelt“ </span>weiterlesen</a></p>
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<figure class="wp-block-image size-large"><img fetchpriority="high" decoding="async" width="1024" height="768" src="https://meier-ip.eu/wp-content/uploads/2026/05/IMG_1462-1024x768.jpeg" alt="Blick vom M&#xFC;nchner Rathausturm" class="wp-image-1126" srcset="https://meier-ip.eu/wp-content/uploads/2026/05/IMG_1462-1024x768.jpeg 1024w, https://meier-ip.eu/wp-content/uploads/2026/05/IMG_1462-300x225.jpeg 300w, https://meier-ip.eu/wp-content/uploads/2026/05/IMG_1462-768x576.jpeg 768w, https://meier-ip.eu/wp-content/uploads/2026/05/IMG_1462-1536x1152.jpeg 1536w, https://meier-ip.eu/wp-content/uploads/2026/05/IMG_1462.jpeg 2016w" sizes="(max-width: 767px) 89vw, (max-width: 1000px) 54vw, (max-width: 1071px) 543px, 580px" /></figure>

<p class="wp-block-paragraph">München ist eine der führenden Städte Europas für Innovation und gewerblichen Rechtsschutz. Diese besondere Stellung wird eindrucksvoll sichtbar vom Rathausturm: Von hier aus lassen sich das Deutsche Patent- und Markenamt (DPMA) und das Europäische Patentamt (EPA) nahezu nebeneinander erkennen. </p>

<p class="wp-block-paragraph">Die räumliche Nähe beider Institutionen steht sinnbildlich für die enge Verzahnung nationaler und europäischer Patentsysteme. Das DPMA überzeugt durch hohe fachliche Präzision, verlässliche Verfahren und eine zentrale Rolle für den Schutz geistigen Eigentums in Deutschland. Das EPA setzt mit seiner technischen Expertise und der Qualität seiner Prüfungen internationale Maßstäbe und genießt weltweite Anerkennung.  <br/></p>
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		<title>Search and Examination Matters 2026</title>
		<link>https://meier-ip.eu/de/patent/search-and-examination-matters-2026/</link>
		
		<dc:creator><![CDATA[Florian Meier]]></dc:creator>
		<pubDate>Tue, 13 Jan 2026 08:01:04 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[EPA]]></category>
		<category><![CDATA[Patent]]></category>
		<category><![CDATA[KI]]></category>
		<category><![CDATA[Prüfung]]></category>
		<category><![CDATA[Recherche]]></category>
		<category><![CDATA[Veranstaltung]]></category>
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					<description><![CDATA[<p>Kostenlose Online-Veranstaltung des EPA zum Thema KI und Patentpraxis vom 2. bis 5. Februar 2026. Lernen, Interagieren und der aktuelle Stand beim Thema Patentrecherche und Patentprüfung. </p>
<p>Der Beitrag <a href="https://meier-ip.eu/de/patent/search-and-examination-matters-2026/">Search and Examination Matters 2026</a> erschien zuerst auf <a href="https://meier-ip.eu/de/">meier ip</a>.</p>
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<p class="wp-block-paragraph">Das Europäische Patentamt veranstaltet vom 2. bis 5. Februar 2026 online die Veranstaltung „<a href="https://www.epo.org/en/news-events/events/search-and-examination-matters-2026">Search and Examination Matters 2026</a>“. Diese kostenlose Veranstaltung, die in Zusammenarbeit mit dem epi organisiert wird, bietet vier Nachmittagssitzungen mit 16 Präsentationen zu wichtigen Themen der Patentpraxis. Ein Schwerpunkt liegt auf der künstlichen Intelligenz und ihren Auswirkungen auf die Patentrecherche und Patentprüfung, einschließlich der Herausforderungen bei der ausführbaren Offenbarung. In anderen Sitzungen werden der erfinderische Schritt bei grafischen Benutzeroberflächen und praktische Probleme von IP-Fachleuten behandelt. Die Veranstaltung fördert die interaktive Diskussion mit EPA-Prüfern und Experten und bietet eine Plattform für den Austausch und für Fragen. Die Sitzungen werden nicht aufgezeichnet, daher ist die Live-Teilnahme erforderlich. Die Anmeldung ist ab sofort möglich und die Teilnahme ist kostenlos.</p>
<p>Der Beitrag <a href="https://meier-ip.eu/de/patent/search-and-examination-matters-2026/">Search and Examination Matters 2026</a> erschien zuerst auf <a href="https://meier-ip.eu/de/">meier ip</a>.</p>
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